Análise de superfície
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J.A. Woollam Alpha-SE Para medições rotineiras de espessura de filmes finos ou medições de índice de refração, este elipsômetro lhe permite montar uma amostra, escolher o modelo que se adequa ao seu filme e pressionar “measure”. Você terá os resultados em segundos. Aplicações: Cristais Líquidos, Controle de Qualidade de produtos, Nanociência, ... Funcionalidades: , Acesso Remoto , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
Janis Criostato Óptico ST-100 Aplicações: Análise de superfície, Filmes Finos, Imageamento por tempo de vida de luminescência, ... Funcionalidades: Controle de Temperatura , Baixas temperaturas , ... Técnicas: Microscopia, Espectroscopia óptica, ... -
Montana Instruments CryoAdvance Aplicações: Análise de superfície, Materiais intermetálicos, Nanociência, ... Funcionalidades: Baixas temperaturas , Não destrutivo , ... Técnicas: Espectroscopia Mossbauer, Magnetometria, Microscopia, ...
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J.A. Woollam M-2000 A linha M-2000® de elipsômetros espectroscópicos foi projetada para atender às demandas diversas da caracterização de filmes finos. Aplicações: Cristais Líquidos, Recobrimento, Cristais ópticos, ... Funcionalidades: Integração , Janela spectral ampla, ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
J.A. Woollam RC2 O design do RC2® é baseado em 25 anos de experiência. Aplicações: Recobrimento, Cristais Líquidos, Cristais ópticos, ... Funcionalidades: Baixas temperaturas , Imageamento , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, Espectroscopia elipsométrica, Espectroscopia elipsométrica, ... -
Janis Sistemas de Ímãs Supercondutores SuperOptiMag - Séries SOM, SOM2 Aplicações: Análise de superfície, Cristais ópticos, Energia solar, ... Funcionalidades: Baixas temperaturas , Alto vácuo , ... Técnicas: Condutividade térmica, Condutividade térmica, Magnetorresistência, ...