Análise de superfície
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J.A. Woollam Alpha-SE Para medições rotineiras de espessura de filmes finos ou medições de índice de refração, este elipsômetro lhe permite montar uma amostra, escolher o modelo que se adequa ao seu filme e pressionar “measure”. Você terá os resultados em segundos. Aplicações: Controle de Qualidade de produtos, Análise de superfície, Recobrimento, ... Funcionalidades: Não destrutivo , Não destrutivo , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
Janis Criostato Óptico ST-100 Aplicações: Semicondutores, Espectroscopia, Imageamento por tempo de vida de luminescência, ... Funcionalidades: Controle de Temperatura , Vácuo , ... Técnicas: Microscopia, Espectroscopia óptica, ... -
Montana Instruments CryoAdvance Aplicações: Óptica quântica, Mídia magnética padronizada, Caracterização elétrica, ... Funcionalidades: Janela spectral ampla, Automação, ... Técnicas: Espectroscopia óptica, Nanoposicionadores, Magnetometria, ...
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GETec GETec AFSEM Insert O inserto AFM permite caracterização correlatica AFM e SEM Aplicações: Eletrônica, Mapeamento químico, Materiais intermetálicos, ... Funcionalidades: Imageamento , Não destrutivo , ... Técnicas: Espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS), Espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS), Microscopia, ... -
J.A. Woollam M-2000 A linha M-2000® de elipsômetros espectroscópicos foi projetada para atender às demandas diversas da caracterização de filmes finos. Aplicações: Filmes Finos, Cristais ópticos, Controle de Qualidade de produtos, ... Funcionalidades: Integração , Integração , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
J.A. Woollam RC2 O design do RC2® é baseado em 25 anos de experiência. Aplicações: Nanociência, Espectroscopia, Filmes Finos, ... Funcionalidades: Integração , Janela spectral ampla, ... Técnicas: , , Espectroscopia elipsométrica, ... -
Janis Sistemas de Ímãs Supercondutores SuperOptiMag - Séries SOM, SOM2 Aplicações: Caracterização elétrica, Polarização por intercâmbio, Análise de superfície, ... Funcionalidades: Baixas temperaturas , Alto vácuo , ... Técnicas: , Espectroscopia óptica, Magnetometria, ...