Recobrimento
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J.A. Woollam Alpha-SE Para medições rotineiras de espessura de filmes finos ou medições de índice de refração, este elipsômetro lhe permite montar uma amostra, escolher o modelo que se adequa ao seu filme e pressionar “measure”. Você terá os resultados em segundos. Aplicações: Nanociência, Cristais Líquidos, Filmes Finos, ... Funcionalidades: , , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
Montana Instruments Cryostation® s200 Aplicações: Propriedades magnéticas, Recobrimento, Microscopia, ... Funcionalidades: Janela spectral ampla, Compacto e fácil de usar, ... Técnicas: Microscopia, Efeito Magneto-óptico Kerr, Espectroscopia Mossbauer, ...
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Arradiance GEMStar XT-P O sistema de Deposição de Camadas Atômicas Melhorada por Plasma (PEALD) GEMStar XT-DPTM extende as capacidades do sistema térmico GEMStar XTTM de incluir o melhor processamento de plasma na classe ... Aplicações: Filmes Finos, Microscopia, Propriedades magnéticas, ... Funcionalidades: , ... Técnicas: ... -
Arradiance GEMStar XT-R Ainda despreparado para desenvolvimento PEALD, os sistemas de Deposição de Camadas Atômicas Térmicos GEMStar XT-RTM oferecem processamento ALD a 300 °C (opcional 500 °C) por toda a faixa de substratos... Aplicações: Recobrimento, Propriedades magnéticas, Catálise, ... Funcionalidades: , ... Técnicas: ... -
Arradiance GEMStar XT-S Os sistemas de Deposição de Camadas Atômicas Térmicos GEMStar XT-S/DTM oferecem processamento ALD. Aplicações: Recobrimento, Cristais ópticos, Microscopia, ... Funcionalidades: , ... Técnicas: ... -
J.A. Woollam M-2000 A linha M-2000® de elipsômetros espectroscópicos foi projetada para atender às demandas diversas da caracterização de filmes finos. Aplicações: Nanociência, Controle de Qualidade de produtos, Filmes Finos, ... Funcionalidades: Não destrutivo , Integração , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ... -
J.A. Woollam RC2 O design do RC2® é baseado em 25 anos de experiência. Aplicações: Filmes Finos, Recobrimento, Análise de superfície, ... Funcionalidades: Janela spectral ampla, Imageamento , ... Técnicas: , , Espectroscopia elipsométrica, ...