Análise de superfície
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J.A. Woollam Alpha-SE Para medições rotineiras de espessura de filmes finos ou medições de índice de refração, este elipsômetro lhe permite montar uma amostra, escolher o modelo que se adequa ao seu filme e pressionar “measure”. Você terá os resultados em segundos. Aplicações: Filmes Finos, Cristais Líquidos, Controle de Qualidade de produtos, ... Funcionalidades: , , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ...
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Janis Criostato Óptico ST-100 Aplicações: Materiais intermetálicos, Semicondutores, Análise de superfície, ... Funcionalidades: Estabilidade Térmica , Vácuo , ... Técnicas: Espectroscopia óptica, Microscopia, ...
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Montana Instruments CryoAdvance Aplicações: Imageamento por tempo de vida de luminescência, Filmes Finos, Spintrônica/magnetoeletrônica, ... Funcionalidades: Compacto e fácil de usar, Automação, ... Técnicas: Microscopia, Magnetometria, Espectroscopia óptica, ...
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GETec GETec AFSEM Insert O inserto AFM permite caracterização correlatica AFM e SEM Aplicações: Microscopia, Eletrônica, Novos materiais, ... Funcionalidades: Estabilidade de vibração , Análise correlativa , ... Técnicas: Microscopia, Microscopia, Espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS), ...
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J.A. Woollam M-2000 A linha M-2000® de elipsômetros espectroscópicos foi projetada para atender às demandas diversas da caracterização de filmes finos. Aplicações: Espectroscopia, Controle de Qualidade de produtos, Filmes Finos, ... Funcionalidades: Janela spectral ampla, Integração , ... Técnicas: Espectroscopia elipsométrica, ...
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J.A. Woollam RC2 O design do RC2® é baseado em 25 anos de experiência. Aplicações: Recobrimento, Cristais Líquidos, Análise de superfície, ... Funcionalidades: Integração , Imageamento , ... Técnicas: , Espectroscopia elipsométrica, Espectroscopia elipsométrica, ...
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Janis Sistemas de Ímãs Supercondutores SuperOptiMag - Séries SOM, SOM2 Aplicações: Cristais ópticos, Análise de superfície, Filmes Finos, ... Funcionalidades: Baixas temperaturas , Campos magnéticos , ... Técnicas: Espectroscopia óptica, Condutividade térmica, Susceptibilidade AC, ...