Microscópio neaSNOM
Ver em 
Solicite uma Proposta

Microscópio neaSNOM

Neaspec

Com base na tecnologia revolucionária da neaspec, o neaSNOM é o único microscópio no mercado capaz de imageamento e espectroscopia nas regiões espectrais visível, infravermelha e mesmo terahertz à resolução espacial de apenas 10 nm.

Isto torna o neaSNOM a ferramenta ideal para aplicações nano-analíticas de ponta, como nano-composição química (nano-FTIR-mode), campos nano-plasmônicos, campos de stress/deformação nanométricos, e distribuição de portadores de carga livres. Muitos cientistas ao redor do mundo confiam na tecnologia da neaspec para suas publicações na Nature, Science e outros periódicos de forte impacto.

Otimizado para juntar espectroscopia e imageamento óptico com AFM

  • Baseado no Microscópio de Força Atômica de Varredura de Alta Estabilidade otimizado para nanoscopia óptica.
  • A unidade de focagem óptica aceita iluminação visível, infravermelha e até terahertz
  • O design patenteado de duas portas permite que haja duas baias de módulo para imageamento e espectroscopia ao mesmo tempo para THz-TDS

Supressão de fundo óptica patenteada embutida para dados de alta qualidade

  • Técnica de detecção óptica de campo próximo altamente eficiente com supressão de fundo patenteada
  • Módulos de detecção de campo próximo dedicados para imageamento e espectroscopia de campo próximo de alta performance
  • Módulo de modo de transmissão para medições de alta performance de campo próximo com amostras transparentes (ex. polímeros)

Projetado por experts da vanguarda da microscopia de campo próximo sem abertura

  • Muitos anos de experiência em microscopia de campo próximo sem abertura e teoria de campo próximo
  • Várias patentes chave no campo da espectroscopia e microscopia óptica de campo próximo
  • Especialidade profunda em aplicações de engenharia nas faixas espectrais visível, infravermelha e terahertz

Aplicações

Rastreamento de nanoluz lenta em placas de metamaterial hiperbólico natural

O neaSNOM da neaspec foi usado por pesquisadores no CIC nanoGUNE para visualizar como a luz se move no tempo e espaço dentro de uma classe exótica de matéria, os chamados “materiais hiperbólicos”. Pela primeira vez, a propagação de pulsos ultralentos e ondas retro-propagantes em placas grossas e profundas de nitrito de boro, de escala inferior ao comprimento de onda – um material hiperbólico natural para a luz infravermelha – pode ser observada.

Microscopia de campo próximo Terahertz de resolução espacial inferior a 30 nm

Neaspec GMbH e Fraunhofer IPM desenvolveram um sistema terahertz pronto para o uso que é capaz de alcançar uma resolução especial de 30 nanômetros em conjunto com o microscópio de campo próximo da neaspec, o neaSNOM

Nano-imageamento sonda desordem molecular em semicondutores orgânicos

Usando nano-FTIR neaSNOM, pôde-se mostrar que finos filmes de semicondutores orgânicos contém regiões de desordem estrutural. Elas podem inibir o transporte de carga e limitar a eficiência de dispositivos eletrônicos orgânicos.

Espectroscopia ultrarrápida de nano-movimento eletrônico em nano-fios

O microscópio neaSNOM equipado com uma unidade de iluminação THz foi aplicado em espectroscopia ultrarrápida para tirar fotos de nano-movimentos ultrarrápidos. Os cientistas puderam gravar um filme 3D dos elétrons se movendo na superfície de um nano-fio supercondutor.

Controlar plásmons de grafeno com antenas ressonantes e padrões de condutividade

O microscópio neaSNOM permite que se lance e se controle a luz a se propagar ao longo do grafeno, abrindo novos caminhos para dispositivos e circuitos fotônicos extremamente miniaturizados.

nano-FTIR sonda estrutura secundária de complexos de proteína única

O nano-FTIR excede o limite de difração em bio-espectroscopia infravermelha e sonda estrutura secundária em complexos de proteínas individuais.

nano-FTIR – Espectroscopia Infravermelha Nanométrica à Resolução Espacial de 20 nm

neaSNOM/nano-FTIR permite espectroscopia infravermelha com fonte de laser de banda larga à resolução espacial de 20 nm que é até 1000 vezes melhor que em espectroscopia infravermelha FT-IR convencional.

Mapeamento de Plásmon em Grafeno com neaSNOM

Duas equipes independentes de pesquisadores conseguiram usar seus microscópios infravermelhos de campo próximo neaSNOM para observar um fantasma: visualizar plásmons de Dirac se propagando ao longo de grafeno pela primeira vez

Mapeando condutividade local em dispositivos semicondutores

Microscopia de campo próximo às frequências infravermelha e terahertz permite que se quantifique partículas portadoras livres à escala nanométrica sem a necessidade de contatos elétricos.

Identificação de materiais em dispositivos semicondutores

Baseado em sua assinatura espectral de campo próximo única, materiais infravermelho-ativos podem ser identificados com o neaSNOM.

Mapeamento de campos ópticos de partículas ressonantes

Imageamento de campo próximo de nano-discos de ouro ressonantes revela um modo de oscilação dipolar.

Caracterização química de misturas de polímeros

Imagens de campo próximo de uma mistura de polímeros composta de poliestireno (OS) e poli (metacrilato de metila) (PMMA) revelam a separação nano-estruturada de fases dos materiais.

Caracterização de ondas superficiais ópticas

A microscopia infravermelha de campo próximo permite o estudo da propagação de ondas superficiais no regime espectral infravermelho. Imagens de campo próximo resolvidas em amplitude e fase revelam efeitos de interferência locais ou permitem a determinação do vetor de onda complexo de ondas superficiais. Ondas superficiais podem ser excitadas no regime espectral em infravermelho médio, por exemplo, por estruturas de metal em Carbeto de silício.

Estudando super lentes e meta-materiais

A verificação direta de super lentes pode ser alcançada pela microscopia de campo próximo, já que o campo local transmitido por uma super lente pode ser investigado no campo próximo da lente.

Nano-focagem infravermelha em linhas de transmissão

A visualização direta do transporte de luz infravermelha e a nano-focagem por linhas de transmissão de miniatura são possíveis pela microscopia de campo próximo resolvidas em amplitude e fase.

Analisando nano-antenas ópticas

Mapeamento de campo próximo resolvidas em amplitude e fase da distribuição do campo local em antenas infravermelhas ressonantes podem ser usadas para analisar o design e funcionalidade da antena.

Transições de fase na escala nanométrica

A grande resolução especial da microscopia infravermelha de campo próximo permite haver estudos detalhados de transições de fase em materiais como a transição de isolante para metal de filmes finos de dióxido de vanádio (VO2).

Imageamento não-invasivo de campos de estresse/distorção

Mapeamento campos nanométricos de estresse/distorção em volta de nano-endentações na superfície de Carbeto de silício. Distorção compressiva/tênsil ocorre em contraste claro/escuro respectivamente.

Investigando a condutividade local de nano-fios supercondutores

Pode-se investigar a condutividade local de nano-fios pela microscopia infravermelha de campo próximo.

Estudando vírus únicos

Gravar o espectro “impressão digital” de vírus únicos de nano-esferas permite a identificação de partículas individuais.

Identificação espectroscópica de materiais

O neaSNOM permite a identificação espectroscópica de materiais na escala nanométrica.

nano-FTIR – Espectroscopia Infravermelha Nanométrica com fonte térmica

neaSNOM/nano-FTIR permite a realização de espectroscopia com fonte térmica a uma resolução espacial de 100 nm que é 200 vezes melhor que a espectroscopia infravermelha FT-IR convencional.

AFM

Microscópio de Força Atômica (AFM)

  • Tamanho compacto X, Y, Z: 30 cm x 45 cm x 30 cm
  • Faixa de posicionamento grosseiro: X = 60 mm, Y = 15 mm, e Z = 8 mm
  • Resolução de posicionamento grosseiro: < 200 nm
  • Design de varredura de amostra a permitir iluminação da ponta AFM
  • Área de varredura: 100 µm x 100 µm X,Y faixa de varredura de ciclo fechado
  • Resolução de varredura: X,Y: 0.2 nm (ciclo aberto), 0.4 nm (ciclo fechado)
  • Velocidade de varredura: até 20 µm/s
  • Tempo de varredura para, por exemplo, 100 x 100 pixels = imagem de 1 x 1 µm: 35s
  • Resolução Z de ruído limitado (RMS): ≤ 0.2 nm
  • Faixa de Varredura Z: 2.5 µm
  • Tamanho máximo de amostra: 40 x 50 x 15 mm (X,Y,Z)

Cabeça de Sondagem AFM

  • Modo de contato intermitente para supressão de fundo óptico
  • Acesso óptico ultra alto à ponta AFM (180° horizontal, 60° vertical)
  • Posicionamento motorizado (X, Y, Z) para fácil alinhamento do ponto AFM
  • Faixas de Posicionamento: X = 30 mm, Y = 3 mm, e Z = 4 mm
  • Resolução de posicionamento X,Y,Z: < 200 nm
  • Aceita cantilevers AFM de frequência de ressonância de até 500 kHz

Microscópio Óptico de Campo Brilhante de Alta Resolução

  • Screening de regiões de interesse (ROI) com resolução espacial < 0.8 µm
  • Campo de visão diagonal: 0.75 mm
  • Câmera CCD de alta velocidade de 5 Mpixel 

s-SNOM

Unidade de Iluminação de Ponta AFM e Coleta de Luz (s-SNOM)

  • Design patenteado de espelho parabólico para focagem e coleta de luz
  • Abertura óptica padrão NA = 0.39
  • Posicionador XYZ motorizado do objetivo do espelho parabólico para focagem precisa de fonte de luz externa à ponte AFM
  • Faixas de posicionamento: X, Y, Z = 4 mm
  • Resolução de posicionamento: X,Y,Z: < 100 nm
  • Aceita iluminação de comprimentos de onda visível, infravermelho e até THz
  • Design patenteado de duas portas para imageamento e espectroscopia

Upgrades Disponíveis

Sensores de Posição para Espelho Parabólico Motorizado

  • Permite uma focagem de luz à ponta AFM mais simplificada e rápida
  • Adiciona sensores ópticos a eixos X,Y,Z de ajuste de espelho parabólico
  • Resolução de sensor: 10 nm

Objetiva de Espelho Parabólico de Alto NA

  • Melhora a razão sinal/ruído com a abertura numérica maior (NA=0.46)
  • Aceita iluminação de comprimentos de onda visível, infravermelho e até THz
  • Suporta o design de duas portas para imageamento e espectroscopia
  • Recomendado para sistemas de fonte de luz com razão sinal/ruído baixa

Controle

Unidade de Controle de Scan neaSNOM e de Processamento de Sinal Óptico

  • Sincronização de mecânica AFM com sinais ópticos
  • Processamento patenteado de sinal para supressão de fundo óptico
  • Duas entradas customizadas ADC para análise de sinal interno
  • Quatro saídas customizadas DAC para análise de sinal externo
  • Requer neaSNOM User-PC (NPC-2) para operação

neaSNOM User PC

  • Visualização de sinal óptico e mecânico e aquisição de dados em tempo real
  • 2 displays de 23” para operação intuitiva
  • Suporte remoto ao usuário integrado

Software de Controle e Aquisição de Dados neaSCAN

  • Software de controle e varredura em tempo real para sinais ópticos e AFM
  • Módulos de software de espectroscopia e imageamento óptico
  • Suporta scans 1D, 2D e 3E
  • Software de análise e visualização de dados pré-instalado (Gwyddion)